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增感屏-胶片组合体系的威纳频谱测试探讨

王昌元;袁聿德;李月卿;于兹喜;刘惠芹;王鹏程;刘世民;张孟龙

摘要: 目的 通过实验测试增感屏-胶片组合体系的威纳频谱(Wiener spectrum,WS),评价X线照片的粒状性。方法 制作CaWO4屏- Kodak片、BaFCl:Eu屏- Kodak片、T颗粒技术3种增感屏-胶片组合体系的10 cm×10 cm粒状性抽样照片,用显微密度计扫描,获得10万个密度值,作为离散随机信号来处理,用快速傅立叶变换(fast Fourier transform,FFT)计算WS。结果 (1)BaFCl:Eu屏-Kodak片的WS值:当空间频率为0.1 LP/mm时,WS值为8.26×10-5mm2,分别是T颗粒技术、CaWO4屏- Kodak片取得照片WS值的2.25倍、1.53倍; 当空间频率为0.5 LP/mm时,WS值为5.23×10-5 mm2,分别是T颗粒技术、CaWO4屏- Kodak片取得照片WS值的2.68倍、1.42倍。(2)管电压由80 kV增加到90 kV时,T颗粒技术在各频率下的WS值均有所增加。结论 BaFCl:Eu屏- Kodak片组合体系的WS大,T颗粒技术改善了照片的斑点问题,其WS值小,故好是采用T颗粒技术。

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