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小儿高热惊厥75例临床与脑电图分析

王菊萍;彭希敏

摘要: 目的:探讨小儿高热惊厥(FC)脑电图改变与临床之间的关系.方法:对75例高热惊厥患儿进行发作2天内及2周后EEG描记及分析,探讨EEG改变与小儿年龄、发作时体温、惊厥发作持续时间、复发次数、遗传史与以后癫痫的发作关系.结果:75例患儿2天内及2周后EEG异常率分别为64%、33.3%;2天内及2周后均以小于3岁组异常率高,2周后以惊厥反复发作者、发作持续时间长、低热惊厥组、有遗传史者异常率高.结论:EEG异常率与年龄、发作次数、惊厥持续时间,惊厥发作时体温及家族惊厥史有关,有家族惊厥史者癫痫发生可能性大.

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