首页 > 文献资料
-
鼠脑缺血神经元DNA单链断裂和双链断裂的比较性研究
目的研究类缺血再灌注不同时间点神经元DNA单链和双链断裂的损伤情况.判断早期DNA损伤形式并讨论其意义.方法以培养的皮质神经元类缺血再灌注模型,采用TUNEL法和Klenow法对缺血再灌注各时间点培养的神经元进行检测,并应用图像分析仪对Klenow法检测结果进行平均灰度检测.结果 TUNEL法检测发现,未经缺血处理的对照组神经元阳性细胞比率为(10.5±1.29)%,随缺血时间延长,其阳性细胞比率明显增加,在6 h时阳性细胞数达高峰[(86.5±4.72)%];Klenow法检测发现,未经缺血处理的对照组神经元平均灰度为72.4±1.00,在2 h达高峰为135.5±1.3l,之后又逐渐降低.结论在培养的皮质神经元缺血再灌注模型中发现,DNA早期损伤以DNA单链断裂为主,大约在再灌注2 h达高峰,再灌注6 h则为DNA双链断裂的高峰.
-
热刺激对原代培养神经元部分生物学特性的影响
目的: 研究热刺激对神经元形态及凋亡的影响, 观察不同温度下神经元活力的变化. 方法: 利用倒置相差显微镜观察高温后神经元的形态学改变. 应用Klenow法对不同高温后神经元进行凋亡检测,应用图像分析仪对检测的结果进行分析. MTT法进行平均吸光度检测. 结果: 高温处理后神经元出现形态学改变. Klenow法检测发现未经高温处理的对照组神经元平均灰度为69.54±2.70,高温处理后平均灰度升高,39℃时达高峰133.40±4.49,而后随着温度升高,平均灰度逐渐降低. MTT法测定显示随着温度升高细胞活力逐渐降低. 结论: 高温处理神经元可诱导其凋亡,39℃时达高峰. 神经元细胞活力随温度升高而降低.
-
类缺血再灌注小鼠皮质神经元DNA单链损伤与Bax表达的关系
目的: 研究神经元类缺血再灌注不同时间点DNA单链损伤和Bax的表达情况, 探讨神经元类缺血再灌注时DNA单链损伤与Bax表达的关系. 方法: 利用流式细胞仪对小鼠皮质神经元类缺血再灌注损伤后Bax的表达进行检测. 应用Klenow法对缺血再灌注各时间点培养的神经元DNA单链损伤进行检测和半定量分析. 结果: 类缺血处理后再灌注不同时间点Bax的表达不同,再灌注2 h强,而后随着再灌注时间的延长Bax的表达下降. Klenow法检测发现未经缺血处理的对照组神经元平均灰度为72.4±1.0,到达2 h达高峰135.5±1.3,而后又逐渐降低. 再灌注不同时间点Bax表达的阳性率与Klenow法检测的平均灰度成线性相关. 结论: 神经元类缺血再灌注2 h为Bax表达和DNA单链损伤的高峰,提示DNA单链损伤与Bax的表达密切相关.
