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用于玻璃-聚二甲基硅氧烷灌注式细胞培养芯片的温度控制系统设计
目的 设计一种用于玻璃-聚二甲基硅氧烷(PDMS)灌注式细胞培养芯片的温度控制系统,代替传统的细胞培养箱,以提高与细胞灌注培养装置的可集成性,同时便于细胞培养过程中显微镜下动态观察.方法 系统采用透光性良好的铟锡氧化物(ITO)镀膜导电玻璃作为加热元件,以Pt100传感器作为测温元件,与PID微控制器构成闭环温度控制系统；玻璃-PDMS细胞培养芯片采用微丝模塑软刻工艺加工而成；利用红外热成像仪对ITO加热元件表面上温度场均匀性进行验证；有限元数值分析对ITO加热元件上细胞培养芯片空间温度场分布进行模拟.结果与结论 设计的温度控制系统结构简单,控制精度达±0.2℃；加热元件表面及玻璃-PDMS灌注式细胞培养芯片上培养腔内温度场空间分布均匀(1℃内),可满足实际细胞培养条件；在芯片上进行人肺癌细胞A549灌注培养实验显示,系统为细胞培养提供合适的温度环境且适合于细胞生物学行为的动态表征.
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铟致肺损伤研究进展
铟及其化合物在工业中使用越来越多，主要用于ITO(铟锡氧化物)薄膜制造平板显示器(如液晶显示器)、触摸屏等电子设备，铟职业接触的潜在危害已经引起广泛关注。美国和英国已公布了铟的职业接触限值均为0.1 mg/m3。铟中毒作为一种新型的职业病，鲜为人知。本文以“铟”、“肺部损伤”为主题词检索中国期刊全文数据库近20年文献，查到3篇与铟肺病有关的文献，分别是综述、现场调查和一篇铟引起中毒的新闻报道。以indium、lung inj ury为主题词检索美国国立医学图书馆下设的Pubmed数据库所有文献，查到外文文献68篇，共有7篇文献报道了10个病例报告，其他为现场调查、动物实验研究等文献报道。我们对至今为止报道的10个病例报告进行临床症状体征、病理组织学、X 射线(CT)检查、疾病转归等数据进行了系统的分析，以便了解铟职业接触引起的肺部疾病。
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某电子线路板焊锡车间作业工人铟及其化合物接触水平分析
采用职业卫生现场调查法,现场采样,实验室检测分析,根据《工作场所空气有毒物质测定铟及其化合物》(GBZ/T160.83-2007)等相关标准及规范对某线路板焊锡车间作业人员接触铟及其化合物的浓度水平进行分析评价.元件更换锡焊工、验收锡焊工和维修锡焊工接触铟及其化合物的时间加权平均浓度TWA较高,高达0.07 mg/m3;元件更换锡焊工、验收锡焊工和维修锡焊工短时间接触浓度STEL高值达0.07 mg/m3.该生产车间一线生产工人接触铟及其化合物虽不超标,但应加强职业病防护设旄的正常运转,加强工人的个体防护意识.加强铟及其化合物毒理性质的研究,从源头控制和消除职业病危害.
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铟锡氧化物对大鼠体内铁、锌、铜元素含量的影响
[目的]探讨铟锡氧化物(ITO)对大鼠体内铁、锌、铜元素含量的影响.[方法]选取SPF级Wistar雄性大鼠24只,随机分为对照组、ITO 3 mg/kg组和ITO 6 mg/kg组.对染毒组大鼠进行肺灌注染毒,每周2次,连续染毒8周.染毒结束后,在屏障环境下继续喂养8周.造模结束后立即处死大鼠,摘取其肺脏、肝脏、肾脏、心脏、脾脏和股骨,经微波消解处理后,采用电感耦合等离子体质谱法测定铟、铁、锌、铜元素含量.[结果]与对照组相比,ITO 3 mg组和6mg组大鼠肺脏、肝脏、心脏、脾脏、股骨铟含量均更高(均P＜0.05),肺脏、肾脏中锌含量更低(均P＜0.05),肺脏、肝脏中铁含量更低(均P＜0.05);ITO 6mg组大鼠肺脏、肝脏和肾脏中铜/锌值均高于对照组(P＜0.05).[结论] ITO染毒可降低大鼠肺脏组织中锌、铁含量,使铜/锌值升高,进丽干扰大鼠体内微量元素的平衡.
