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聚合度和隙料厚度对计算机辅助设计与制作全瓷冠边缘和内部适合性的影响
目的 探讨聚合度和隙料厚度对计算机辅助设计与制作(CAD/CAM)全瓷冠边缘适合性的影响.方法 聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)树脂代型,分为A组(2°)和B组(4°),每组30个,每组又分3个亚组,每亚组10个,在PMMA树脂代型上制作CAD/CAM全瓷基底冠,隙料厚度设为40 μm、60 μm和80μm.采用双色硅橡胶印模技术复制全瓷冠的内部间隙,在金相显微镜下采集边缘间隙的图像.用Micro-image Analysis软件测量边缘间隙,将所得数据用SPSS 20.0软件进行分析.结果 隙料厚度相同时,2°和4°之间的差异有统计学意义.结论 隙料厚度60 μm,聚合度4°时,全瓷冠的适合性好.
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隙料厚度对计算机辅助设计/计算机辅助制作全瓷底层冠适合性的影响
目的:考察隙料厚度对计算机辅助设计/计算机辅助制作(CAD/CAM)全瓷底层冠适合性的影响,确定较佳的隙料厚度值.方法:采用MC切削陶瓷(machinable ceramic)经Cerec2 CAD/CAM系统设计制作下颌第一前磨牙全瓷底层冠,隙料厚度值分别设置为40、60、80 μm,黏结于制备体上.用体视显微镜测量适合性.结果:隙料厚度40μm组与60 μm组的适合性差异有显著性(P＜0.05).60μm的全瓷底层冠适合性较好.结论:临床采用Cerec2 CAD/CAM设计制作全瓷底层冠时,建议选择60 μm的隙料厚度值.
关键词： 计算机辅助设计/计算机辅助制作 全瓷底层冠 适合性 隙料厚度 -
不同隙料厚度对全瓷冠适合性的影响
目的 研究InLab MC XL系统不同隙料厚度对Cerec Blocs全瓷冠边缘和内部适合性的影响.方法 制备右上颌第一磨牙全冠预备体模型并翻制硅橡胶阴模,分别灌制全瓷石膏、超硬石膏预备体模型各30个.30个全瓷石膏预备体用于光学印模采集,获得30个数字化代型并完全随机分为6组分别设置不同隙料厚度值:0(A组)、10(B组)、20(C组)、30(D组)、40 μm(E组)和50 μm(F组),每组5个.30个超硬石膏预备体用于全瓷冠黏结,经包埋、剖开后,体式显微镜扫描试件剖面.结果 C、D组边缘适合性均介于30～ 120 μm,内部适合性均介于30 ～ 300 μm.C组与D组冠边缘适合性比较有统计学差异(P＜0.05).C、D组冠内部适合性不均匀,(牙合)面适合性相对较大.结论 当隙料厚度为20、30 μm时,全瓷冠的边缘和内部适合性均在临床可接受范围内；30 μm的冠边缘适合性优于20 μm,但20、30 μm的冠(牙合)面适合性较差.
关键词： 计算机辅助设计与制作 隙料厚度 全瓷冠 适合性
