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电离文献资料
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沉默BLAP75基因对电离辐射诱导DNA损伤的影响
目的：研究BLM结合蛋白75（BLAP75）在电离辐射诱导DNA损伤反应中的生物学效应。方法运用RNA干扰技术，在细胞中特异性沉默BLAP75基因，然后通过单细胞凝胶电泳技术来研究电离辐射诱导DNA损伤程度的变化，并且通过再次表达BLAP75来拯救沉默BLAP75所致的实验表型，以及应用Western blot方法研究DNA损伤反应中的磷酸化修饰。结果与未转染的293T对照组细胞相比，电离辐射在沉默了BLAP75基因的细胞中会诱导更多的DNA断裂，并且在此细胞中重新表达BLAP75则能降低DNA断裂数量至对照组细胞水平；γ射线照射后，细胞周期检查点激酶2（Chk2）的磷酸化程度比阴性对照组细胞增强。结论 BLAP75能减少电离辐射诱导的DNA损伤，在电离辐射损伤修复中可能具有重要作用。
