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Sirona CEREC Blocs陶瓷文献资料
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不同的表面处理对Sirona CEREC Blocs陶瓷表面粗糙度的影响
目的 比较不同表面处理对Sirona CEREC Blocs陶瓷表面粗糙度的影响.方法 按照不同的表面处理方式将试件分为7组:对照组(A)、自身上釉组(B)、釉膏上釉组(C)、2组不同松风抛光方案组(D、E),2组不同EVE抛光方案组(F、G),测量试件表面处理后的粗糙度值,体视显微镜定性分析试件表面形貌.结果 各组粗糙度值依次为:A组(0.139±0.010)μ m、B组(0.129±0.006)μm、C组(0.090±0.029) μm、D组(0.145±0.009)μ m、E组(0.101±0.007)μ m、F组(0.172±0.016)μ m、G组(0.278±0.027)μ m;A组与C组、D组与E组、D组与G组、E组与F组、E组与G组及F组与G组之间均有显著性差异(P＜0.05),A组与B组、C组与E组及D组与F组之间均无统计学差异(P＞0.05):体视显微镜分析结果与粗糙度值分析结果一致.结论 釉膏上釉较其它表明处理方式效果好,不同的抛光工具对Sirona CEREC Blocs陶瓷的抛光效果不同,其中松风抛光工具抛光效果堪比釉膏上釉的效果.
关键词： 表面粗糙度 上釉 抛光 Sirona CEREC Blocs陶瓷
