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Cx40 gene文献资料
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纳米级与微米级二氧化硅粉尘对小鼠胚胎毒性的比较研究
目的 比较研究纳米级(nm-)与微米级二氧化硅粉尘(μm-SiO2)对小鼠胚胎的影响,并观察胚胎Connexin32(Cx32)和Cx40基因有无点突变改变.方法 5个实验组(零剂量粉尘组、μm-SiO2 50mg/m3组、μmm-SiO2 200mg/m3组、nm-SiO2 50mg/m3组、nm-SiO2 200mg/m3组)共25只雌性小鼠,妊娠0日(E0)至E17日连续呼吸道染尘,观察妊娠期间母鼠体重变化,E18日取出胚胎,观察胚胎发育情况,并采用常规聚合酶链式反应(PCR)、聚合酶链式反应一单链构像多态性(PCR-SSCP)技术对胚胎的Cx32和Cx40基因进行点突变检测.结果 E18日,各染尘组的母鼠体重均显著低于对照组;各染尘组的胚胎数、活胎数、胚胎体重显著低于对照组,nm-SiO2 200mg/m3组活胎数显著低于nm-siO2 50mg/m3组和μm-SiO2 200mg/m3组,nm-SiO2 200mg/m3组胚胎体重显著低于μm-SiO2 200mg/m3组;nm-Si02 200mg/m3组死胎率和吸收胎率均显著高于对照组.Cx32和Cx40基因经检测未发现有突变者.结论 SiO2粉尘具有小鼠胚胎毒性,微米级粒子粒径改变为纳米级后,毒性作用增强,且纳米级SiO2粉尘对小鼠胚胎有致死作用.两种粒径的二氧化硅粉体均未发现有致Cx32和Cx40基因点突变.
