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一种新的X线技术及其在口腔正畸中的应用——介绍X线头影测量技术
主编按语:X线头影测量由Dr.Broadbent发明,他在1931年美国Angle正畸学杂志上发表了第一篇介绍X线头影测量的论文.X线头影测量对于口腔正畸临床诊断、设计以及作为研究手段的重要作用,促进口腔正畸学科发展的事实是无可争议的,我国X线头影测量的研究应用起始于上世纪60年代初,第一篇有关文章见于1965年第四期的北京医科大学学报,虽然起步较晚但发展很快至今也已步入与国际接轨的数字化高科技X线头影测量时代.今年是Dr.Broadbent有关X线头影测量论文发表70周年,为了纪念他对口腔正畸学科发展的贡献,在此全文刊出他的这一论文.在论文刊出过程中得到了Dr.Broadbent之子Dr.H.Broadbentjr的授权和支持,特此表示衷心的感谢.在过去几年中,自然人类学的学者们早于正畸学界发表了大量的科学文章,使我们明白应用精确的方法来研究生物学问题的意义,使我们希望将人类学的研究方法应用到正畸实践中.大部分正畸医生在治疗前后仍然主要靠分析牙齿与颌骨间相互关系的方法来评价牙面部畸形.
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颊旁间隙与微笑美
随着社会的进步,人们对正畸的要求也越来越高,正畸治疗不仅要求矫正牙齿,而且应尽力改善患者的面容,使其更具美感.微笑是面部美观尤为重要的部分,美丽的微笑已成为正畸矫治的重要目标.因此,在正畸临床诊断及矫治效果的评价中应增加动态微笑的评估指标,为正畸矫治方案的制定提供有价值的参考依据.长期实验研究和临床调查结果显示颊旁间隙、微笑线、上唇曲度、微笑弧、前牙合平面、牙龈及牙性因素等是影响微笑美的重要因素[1],近年来,颊旁间隙对微笑美的影响已被很多研究者所关注,本文就其研究现状综述如下.