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腭侧面沟文献资料
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应用Micro-CT对上颌第一前磨牙颊根腭侧面沟的形态学研究
目的:对离体上颌第一前磨牙颊根腭侧面沟进行形态测量,为临床根管治疗及桩道预备提供实验参考.方法:收集双根双管型上颌第一前磨牙22颗,其中存在有颊根腭侧面沟的上颌第一前磨牙21颗,显微CT扫描并三维重建后,观察测量上颌第一前磨牙颊根腭侧面沟各水平向及垂直向数据.结果:双根上颌第一前磨牙颊根腭侧面沟的发生率为95.45％(21/22).腭侧面沟由根分叉处延伸至根尖部,沟的深浅不等,深的部位位于根颈部.上颌第一前磨牙颊根腭侧面沟深处即是根管壁薄弱的地方,上颌第一前磨牙颊根的颊侧根管壁厚度明显大于腭侧根管壁厚度(P＜0.05).结论:双根双管型上颌第一前磨牙颊根腭侧面沟的发生率高,沟状凹陷使得颊根的腭侧根管壁厚度变薄,根管形状不规则.
