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表面等离子体共振成像文献资料
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基于表面等离子体共振的基因芯片制备与检测
基于表面等离子体共振(Surface plasmon resonance, SPR)原理的基因芯片检测方法不需要标记,是一种很有潜力的高通微量分析(High-throughput microanalysis, HTMA)方法.应用自组装单分子层技术(Self-assembled monolayer,SAM)制备淋病奈瑟菌探针点阵的基因芯片,应用自行组建的SPR和表面等离子体共振成像(SPR imaging, SPRI)基因芯片分析系统,对该基因芯片进行检测分析,研究基因芯片上探针点阵的杂交反应.结果表明:SPR共振曲线上都有明显的共振吸收峰,探针杂交后折射率增大,共振角增大,分子量增大.由SPR检测界面或共振曲线可判断待分析样本与基因芯片上的探针是否发生杂交反应,待分析样本中是否含有待检测的物质.由SPRI检测系统可实时、直观地观察基因芯片上的探针是否发生杂交反应.SPR和SPRI系统可进行定性和定量分析.
关键词： 奈瑟菌 淋病 表面等离子体共振 表面等离子体共振成像 基因芯片
