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冷场发射扫描电镜文献资料
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采用冰冻切片和冷场发射电镜构建APA微囊的膜厚度及膜表面测定的方法研究
目的:建立一种APA微囊的膜厚度以及表面结构的检测方法,并测定微囊在湿状态的膜厚度和干燥后的膜表面结构.方法:采用亚甲蓝染色、冰冻切片结合光学显微镜观察微囊的膜厚度,并将囊膜在37℃孵育30 d后再次观察厚度的变化;对微囊进行冷冻干燥和冷场发射观察囊膜表面和断面结构.结果:APA-Ca和APA-Ba微囊的囊膜厚度并不均匀,孵育1个月后囊膜厚度变化差异无统计学意义(P>0.05);冷场发射扫描电镜下显示,两种微囊表面均光滑、致密;冻干后APA-Ca囊膜厚度达450 ~690 nm,而APA-Ba的囊膜厚度约为350 nm.结论:建立了一种简单、可靠的微囊膜厚度和表面检测方法,为进一步研究APA微囊的质量奠定了基础.