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完全边缘缝隙文献资料
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不同全瓷冠边缘适合性的实验研究
目的 比较IPS e.max press热压铸全瓷冠、Cercon计算机辅助设计制作的全瓷冠的边缘适合性.方法 取正畸拔除的上颌双尖牙1颗,制备全瓷冠的牙体模型,复制30个树脂代型,其中15个用于分别制作IPSe.maxpress、Cercon全瓷冠,对照组钴铬烤瓷冠(n=5),15个体视显微镜下观察、评价全冠边缘适合性,实验数据用进行单因素方差分析.结果 3组试件完全边缘缝隙的平均值(66.65±28.07).μm,IPS e.max press组(58.03±22.90) μm,Cercon组(90.23±24.13) μm,钴铬烤瓷组(51.68±23.02) μm,Cercon组的边缘缝隙大,与其它2组差异有统计学意义(P＜0.01).IPS e.max press组与钴铬烤瓷组完全边缘缝隙比较差异无统计学意义(P＞0.05).结论 IPS e.max press热压铸全瓷冠和Cercon全瓷冠的边缘适合性均在临床可接受的范围,IPSe.max press全瓷冠边缘适合性优于Cercon全瓷冠,与钴铬烤瓷冠组边缘适合性比较差异无统计学意义(P＞0.05).
关键词： 边缘适合性 完全边缘缝隙 全瓷冠 热压铸瓷计算机辅助设计制作
