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新生儿缺氧缺血性脑病临床分析
新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是指各种围产期缺氧,窒息,血流障碍引起的部分或完全缺氧,脑血流减少或暂停所致的新生儿脑损伤.HIE是新生儿神经发育异常和死亡的主要原因之一,发病率为3‰活产儿,其中15-20%在新生儿期死亡,存活率25-30%留有永久性神经系统缺陷.如;智力障碍,脑瘫,语言障碍.近年来随着影像学的发展,如;头颅CT,MRI等,可反映出HIE的病变范围,程度及病变过程,但由于CT存在着离子辐射,故MRI因其高敏感性,因而在新生儿中枢神经系统疾病中的应用日见广泛.临床观察中它不仅有助于早期诊断,而且能够比较准确地预测远期结果,本文临床观察新生儿HIE的损伤类型,发病机制及病理类型,HIE常规的MRI成像特点及预后评估.